Login by: Register Login
150mmProbe Systems200mmProbe Systems300mmProbe SystemsPower SystemsSilicon PhotonicsCryogenic SystemsProbe and probe holderProbe Systemspower amplifierField Strength MeasurementAnechoic ChamberReverberation ChamberOTA Test ChamberTransverse ElectromagneticGJB151A/B Standard TestRTCA DO-160G Standard TestEMC Test System for Civil EquipmentEMC Test‌Failure analys detection equipmentisPackaging EquipmentSignal GeneratorSpectrum Analyzer / Signal AnalyzerVector Network Analyzer (VNA)Power Sensor & Power MeterOscilloscopeImpedance TunerPower SupplyDC TestBit Error Rate Tester (BERT)Sampling OscilloscopeLight SourceOptical FilterOptical SwitchOptical AttenuatorOptical Power MeterSpectrometerOptical Component AnalyzerClock and Data Recovery (CDR)Optical Wavelength MeterOTDROptical Chip Test SystemTesting instrumentMaury Microwave RF & Microwave Test AccessoriesDomestic RF & Microwave Test AccessoriesEMC Test AccessoriesFormFactor/Cascade Probe Station Test AccessoriesTesting AttachmentTHz On-Wafer Test SystemWAT Test SystemHigh-Voltage On-Wafer Test SystemOptoelectronic On-Wafer Test SystemSilicon Photonics On-Wafer Test SystemRF On-Wafer Test SystemFailure Analysis On-Wafer Test SystemOn-Wafer Load Pull Test SystemDC On-Wafer Test SystemAutomatic Test SoftwareWafer-Level On-Wafer Test SystemAM3200 Series Pulsed IV Test SystemMT1000/MT2000 Series Active Load Pull Test SystemAutomatic Power Supply Test SystemMulti-Channel UWB Signal GenerationData Acquisition System EquipmentMicrowave & RF Front-End HILCo-Simulation PlatformPassive-Active Hybrid Load Pull Test SystemRF & Microwave Test Systems and SolutionsAnechoic ChamberTransverse ElectromagneticReverberation ChamberOTA Test ChamberEMC Test System for Complete Vehicles and Auto ComEMC Test System for Civil EquipmentEMC Test and SolutionMaintenanceLeasingSpot GoodsTesting ServiceIndustry NewsSocial NewsCompany ProfileContact UsTalent Recruitment

ETS SMART™ 80/200 混响室

产品详情


产品简介

ETS-Lindgren的SMART™混响室采用了最新经过验证的混响技术,根据丰富的腔室构造设计经验,构建合适高场强电磁环境,以进行抗扰性,辐射和屏蔽效能测试。与其他测试方法相比,SMART™混响室成本更低,以较小的输入功率就能获得很高的场强环境

SMART™混响的工作原理是利用其内表面反射内部辐射的射频能量。在测量过程中,使用一个或多个旋转叶片或调谐器来改变腔体边界条件,产生了统计意义上具有各向同性和均匀性的电磁场。ETS Lindgren的调谐器设计能够确保混响室内稳态快速建立

混响室具有各向同性和均匀性的固有特性,为测试提供了一些独特的优势。如果待测件具有确定的配置和给定的不确定度,无论在混响室内的什么地方,测量结果都是相同的,在一个或多个腔室之间进行的EUT测量是等效的。测量重复性高,测试结果重现性好。

混响室的另一个优势在于,与其他测试环境相比,使用较小的功率可以产生很高的场强。其好处是可以在不牺牲性能的情况下使用成本较低的功率放大器。SMART™混响非常适合模拟复杂电磁兼容测试环境,例如计算机机房、医疗设备室、航空电子设备舱和车辆发动机舱。在一次完整的测试中,SMART™混响可以模拟所有的电磁波极化和入射情况。


规格参数


SMART™ 80 混响室

SMART™ 200 混响室

频率

80MHz-18GHz(40GHz可选)

200MHz-18GHz(40GHz可选)


技术指标


SMART™ 80 混响室

SMART™ 200 混响室  

频率

80MHz-18GHz(40GHz可选)

200MHz-18GHz(40GHz可选)

测试符合标准

MIL-STD 461G

SAEJ1113/27

GMW3097

FMC-1278

EUROCAE\RTCA DO160F/G

IEC6000-4-21

DEF STAN 5941

MIL-STD 461G

SAEJ1113/27

GMW3097

EUROCAE\RTCA DO160F/G

FORD FMC 1278

IEC 61000-4-21


成都信赛赛思科技有限公司
公司地址:成都市金牛区金科南路25号前锋西线国际501号
邮政编码:610000
客服邮箱:sales@semishine.com
服务电话:028-61362386